측정 요구 사항
휴대폰 케이스 가장자리 부분의 3차원 형상을 측정하고, 휴대폰 케이스의 긁힌 위치를 측정한다

주요 특징 개요
1. 비접촉식 측정, 일체형 설계

2. 3차원 형태 스캔, 다기능 데이터 처리
3. 다양한 재료에 대한 정확한 측정

4.사용이 간단하고 조립과 분해가 편리하다

5. 스캔 속도가 빠르고 위치 정밀도가 높음

6. ± 0.5 ~ ± 1μm 반복 정밀도 보장

7.안정성이 높고 방해에 강하다

측정 결과
스크래치 깊이는 약 27μm

현 단계의 측정 장치에 존재하는 문제를 해결하다.

측량 재료에 대하여 일정한 요구가 있다.
접촉 측정, 측정 재료 손상
측정 범위가 작고 위치가 불확실하여 측정이 어렵다
측정 속도가 느리고 정밀도가 낮으며 측정 오차가 크다

복잡한 구조와 높은 비용